اندازه‌گيری اثرات مغناطيسی در مقياس نانو

روشي جديد براي اندازه‌گيري اثرات مغناطيسي در مقياس‌نانو

گروهي از محققان ژاپني، روش جديدي براي ارزيابي ساختار مغناطيسي و الكترونيكي لايه‌هاي اتمي زيرسطحي در يك ماده ابداع كرده‌اند. اين روش كه «طيف‌سنجي پراش» ناميده شده‌است، براي اندازه‌گيري اثرات مغناطيسي در مقياس نانو و توسعة ضبط مغناطيسي چگالِ «عمودي» بسيار سودمند خواهد بود.

ادامه مطلب